微区X射线荧光分析仪Atlas
微区X射线荧光分析仪Atlas，作为一款能量色散型X射线荧光分析仪（EDXRF），Atlas的空间分辨率、操作自动化，束斑尺寸等诸多性能指标表现优异，目前Atlas有两个型号M和X（尺寸更大）。
| 参考 | 温度/湿度范围 | 内部尺寸（WxHxD）mm | 产品数据表 | 说明书 |
|---|
| 参考 | 描述 |
|---|---|
| 介绍 | IXRF专注于精确地微区痕量元素分析产品，包括齐全的能谱仪（EDS）和X射线荧光（XRF） |
| 硬件 | 作为一款台式XRF，Atlas-M型号的体积为890×560×560mm，具有较大的样品仓体积，相对应的是较大的样品台行程以及最重的载重量，而与此同时，却可以将样品台的移动速度提升到300mm/s，移动精度≤1μm。 其采用的毛细管聚焦技术，可将束斑缩至5μm，另外也可通过选用准直器等配件，使束斑在5μm—1000μm之间的范围内可调；其多大8片的滤波片选择，可满足更多的分析需求。 |
| 软件 | 作为曾因其软件研发能力而获得英国政府颁发的千禧年大奖的公司，IXRF在Atlas操作软件的开发上沿袭了其一贯的专业性及开放性。在数据的获取及处理上，可实现数据的一键采集，或自动或手动的鉴别样品成分，并利用FP建模或quantitative match等功能实现样品成分的定量分析；在图像处理方面，不仅可对获取的图像进行拼接，还可实现相分析、特征颗粒筛选、特征颗粒形态学上的测量及成分分析等功能；在面分布及线扫描方面，可同时获得多达35种元素的信息，并且实现单像素的谱图数据采集，并可完全保存下来，后续仍可继续对此数据进行点线面等处理。 |
| 应用 | 可在各种环境，如大气、真空以及氦气等气氛下分析多种类的样品，无论是固体、液体、颗粒、粉末，样品大小，抛光与否，表面粗糙与否皆可轻松胜任，且实现无损分析。 |
| 特点 | 束斑尺寸最小可达5μm；大样品台行程（320×320×120mm），移动速度可达300mm/s；多达8片的滤波片选择； |
| 用途 | 地矿文博； 电子器件； 刑侦医学； 医药检测； 环境监测。 |
| 参考 | 描述 |
|---|---|
| 样品类型 | 固、液、颗粒、粉末 |
| 测试介质 | 空气、真空、氦气 |
| 激发源 | 12-50W,0-50kV,200 μA-1mA |
| 元素分析范围 | Na-U |
| 样品台 | X、Y、Z三轴可动，320x320mm可移动范围，载重10Kg |
| Mapping最大尺寸 | 220x200mm |
| 样品移动速度 | 300mm/s |
| 探测器 | SDD |
| 分辨率 | 135-145ev |
| 活区面积 | 50-150mm² |
| 靶材 | 铑（其他可选） |
| 束班尺寸 | 5m-1000 μm连续可调 |
| 滤片 | 8片 |